[어떻게 제품 개발을 할 것인지?]

개발에서 샘플을 2~5개 제작해서 검토한 결과를 가지고 생산을 위한 Data로 설정하는 경우가 일반적입니다.

하지만, 정작 생산에 들어가면 내가 설정한 Data 를 벗어나는 제품들이 발생합니다. 왜 이런 문제가 발생될까요?

이유는 많지만, 가장 대표되는 이유를 설명하겠습니다.

1. 각 부품에서 발생되는 오차에 대해서 검토가 안됨.

1.1. 검증하는 수치의 상한과 하한을 결정할 때는 이론치와 실험치에 대한 비교가 되어야 됩니다. 여기서 이론치라는 것은 Typical value에 대한 수치 계산만이 아니라 Max와 Min 값까지 포함된 수치가 계산되어야 됩니다. 그래야 제품의 가장 Worst한 경우를 예측할 수 있습니다.

즉, 내가 설정한 수치에 대해서 구성된 부품을 통한 오차를 모두 적용해서 Max/Typ/Min을 설정해야 됩니다. 이때 여러개의 부품이 함께 동작할 경우에는 공식에 근거해서 max/min을 결정합니다. 하기와 같은 방식으로 계산을 하면 됩니다. OTP 동작이 되는 NTC의 값을 계산한 것입니다.

1.2. 이 수식에 근거해서 개발에서 검증하는 상한과 하한에 들어오는지 검증을 해야 되고, 또한 분포를 검증해야 됩니다. 즉, CPK를 만들어서 검증한 결과가 한쪽으로 치우치거나, 분산되지 않는지 확인해야 됩니다. 가장 좋은 것은 CPK 1.33 이 나오면 BEST 입니다. 한쪽으로 치우친다면 value를 조정하고, 분산이 된다면 부품 선정을 다시해야 됩니다.

1.3. 이 수식에 근거해서 생산에 사용한 기준을 작성하고, Specification도 이 기준에 근거해서 만들어야 됩니다.

2. 조립성에 대한 검토가 안된 경우

2.1. 제품을 제작하기 위해서는 무수히 많은 사람의 손을 타게 됩니다. 개발 담당자가 생산라인에서 직접 생산한다면 조심해야 될 부분이나 문제가 되는 사항들이 이미 알고 있어서 잘 만들겠지만, 이건 불가능합니다. 따라서 샘플 제작 과정에서 본인이 발견한 문제점들은 List를 만들어서 생산에도 공유를 해야 됩니다.

2.2. 작업의 난이도가 너무 높다면 보조수단을 이용해서 개선을 하던지, 난이도를 낮출 방법을 찾아서 개선해야 됩니다. 작업자는 적게는 몇 초 동안 하나의 공정을 수행합니다. 이 공정을 하루 8시간씩 한다고 생각해 보세요. 난이도가 높거나, 작업 스트레스가 높은 제품은 작업자 피로도를 증가시키고, 결국 제품이 불량률을 높게 만드는 원인이 됩니다.

3. 검사 장비에 대한 검증이 안된 경우

3.1. 검사 장비는 Equipment만을 의미하지 않습니다. 검사를 위해서 제공된 JIG도 포함입니다. 또한 F/W update를 위해서 제공한 Write JIG도 포함입니다.

3.2. 제공된 검사 JIG의 신뢰성이 떨어지면, 작업자들은 JIG 사용을 꺼리게 됩니다. 또한, 작업 난이도고 JIG로 인해서 더 상승하면 당연히 JIG 사용을 안하게 됩니다. 즉, JIG도 신뢰성과 작업 난이도를 고려해서 제작해야 됩니다.

3.3. 검사 장비는 신뢰를 할 수 있어야 됩니다. 그렇기 위해서는 Calibration이 되어 있어야 되고, PASS/FAIL을 오류 없이 판별할 수 있는지 사전 검토가 되어야 됩니다. 특히, Calibration이 안된 경우는 offset을 주어서 data를 잡으면 됩니다. offset으로 가능한 것은 값이 고정되는 경우입니다. 하지만 값이 측정할 때 마다 변한다면 해당 장비로 측정은 불가능합니다.